光纖數(shù)值孔徑測試實驗儀就是本公司針對光纖數(shù)值孔徑測量所研發(fā)的一款實驗儀，該儀器可以讓學生通過自己搭建系統(tǒng)，掌握光路調整方法，并直觀的了解光纖數(shù)值孔徑測量原理，同時還可以通過儀器現(xiàn)有平臺開展光纖傳感原理實驗，鍛煉了學生動手動腦能力。

光纖數(shù)值孔徑（NA）測試注意事項：

測試環(huán)境控制‌：

‌光源穩(wěn)定性‌：需使用高穩(wěn)激光光源（如1310nm/1550nm），避免功率波動影響遠場光強分布測量精度‌。

‌環(huán)境光干擾‌：測試區(qū)域應遮光，防止雜散光干擾功率計讀數(shù)，建議使用防護擋板‌

樣品準備與校準‌：

‌端面處理‌：光纖端面需清潔無劃痕、崩邊或污染（如灰塵、油污），否則會導致反射損耗增加或NA值偏差‌。

‌光纖固定‌：需拉直光纖并避免彎曲，彎曲半徑過小可能引入附加衰減，影響NA測試結果‌

數(shù)據(jù)采集與分析‌：

‌動態(tài)范圍‌：功率計需具備足夠動態(tài)范圍，以準確捕捉低強度邊緣光信號‌。

‌多次測量‌：建議重復測試3次以上取平均值，減少隨機誤差‌。

設備維護與驗證‌：

‌定期校準‌：測試儀需定期用標準光纖（如NA=0.22的標定光纖）校準，確保系統(tǒng)誤差<0.01‌。

‌盲區(qū)管理‌：近場掃描法需注意脈沖寬度設置，過大的脈寬會增大盲區(qū)，影響短距離事件定位‌。